CPLD XC9500/XL—装运前器件测试过程

描述

关键词:9500试验过程

已经运行了哪些测试来验证9500个器件在装运之前是否有功能?

解决方案

测试序列包括以下步骤:

1。晶圆排序α1

逻辑功能测试,程序/擦除测试(所有在Program状态下的单元)。

在该测试之后,晶片在高温下烘烤以测试电池泄漏(=电荷损失)。烘烤在摄氏250度,持续24小时。

2。晶圆排序α2

作为晶圆烘烤的结果,检查Program的电池的阈值电压变化。在这个测试之后,坏器件(无论是晶圆排序为1还是2)都被标记。所有好的器件被发送到打包。

三。最后测试

全逻辑功能测试和全程序/擦除测试。在这个测试之后,好的器件被高速地装箱、标记和装运。

XC9500器件在“最终测试”期间被充分测试,这是包装单元从包装返回的阶段,并且在器件被标记和装运之前。在最终测试过程中,每一个XC9500器件都被完全测试用于Program/验证(JTAG/ISP和非ISP模式)和逻辑功能(同时使用Program单元和专用测试电路)。

有关质量保证的更多信息,请到:

HTTP://www. xLimx.com /产品/质量/

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提问于 2018-07-29 14:10:12 +0800

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