格子为MaxxO2器件在大气中子作用下提供任何测试数据吗?

MACHXO2产品系列的可靠性报告具有软错误率(SER)测试数据。进行SER测试,以表征SRAM存储和器件逻辑元件对高能中子和α粒子辐射的敏感性。由这些粒子的冲击引起的电荷可以聚集在器件中的敏感节点上,并导致器件内部电状态的变化。虽然这些更改不会对设备造成物理损坏,但它们会导致设备操作中的逻辑错误。

中子SRAM SER率-这一特性是在中子测试期间配置RAM和嵌入块RAM(EBR)单元的翻转速率。装置被配置为逻辑模式,暴露于测量中子剂量,并且从装置读取设备配置。通过模式比较来识别改变的比特。中子测试归一化到公布的中子通量率为纽约海平面。该速率被测量为在设备中每百万比特归一化的时间(FIT)的标准化,以允许跨设备族密度的平移。

这个MACHXO2产品族资格概述详细的测试和数据在第6页,第23页。

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提问于 2018-07-27 11:16:22 +0800

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